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电科思仪高性能光谱分析仪取得重要突破
来源:新闻中心
发布时间:2025年02月12日 编辑:新闻中心

  近日,电科思仪突破高精密光学设计及装调技术瓶颈,成功研制出高性能光谱分析仪。

  该仪器为应对紫外、可见、近红外光谱波段的复杂测试场景而设计,波段覆盖350纳米~1200纳米,最高光谱分辨率达到10皮米,动态范围优于65分贝,单次扫描时间最快可突破200毫秒,能够快速精细还原光谱特征,满足产线、实验室光谱测试需求,可广泛应用于光有源器件、光无源器件、应用光子设备、可见光通信、激光雷达、生物医疗、工业应用、家用电子设备、测量传感、电信等领域。

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